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该设备主要应用于材料的电子衍射分析、原子级高分辨图像获取、原子级EDS元素成分分析，可在从微米到原子尺度的跨尺度范围内，实现对材料结构、晶体学信息及化学成分的综合表征。
仪器测试功能：实现高分辨率TEM和STEM成像，实现微分相位衬度积分成像 (iDPC) 功能，可以高效率收集能谱信息，可实现高衬度、高信噪比成像。仪器主要技术参数：1、加速电压：200 kV；2、分辨率：200 kV下STEM分辨率140 pm，TEM分辨率120 pm；3、EDS探测元素范围：Be (原子序数4)－Cm (原子序数96)。仪器主要应用领域：200 kV场发射电镜广泛用于金属材料、陶瓷材料、无机非金属材料和复合材料的微观结构及成分分析。可以进行相应...
仪器测试功能：1、聚焦离子束系统可用于刻蚀和沉积，所刻蚀和沉积的材料可以是绝缘体，也可以是导体；2、样品台可以实现从-10°－55°倾转，配有38°和90°样品座接口，用于高质量TEM样品制备；3、配有专业的三维重构软件，可实现微米级材料的三维重构；4、配有AutoTEM软件，可实现TEM样品自动制备。仪器主要技术参数：1、加速电压：350 V – 30 kV；2、电子束分辨率：30 kV下分辨率为0.6 nm，1 kV分辨率0.7 nm，500 V下分辨率为1.0...
仪器测试功能:材料微观形貌表征、相应选区电子衍射观察，配合特征X-射线能谱仪(EDS)进行微区的成分分析。仪器主要技术参数:1、加速电压：200 kV；2、点分辨率：0.248 nm3、线分辨率：0.144 nm；4、最高放大倍数：100万倍；5、探测元素范围：Be-U。仪器主要应用领域:1、纳米材料微观形貌表征与结构分析；2、金属、陶瓷或无机非金属材料的物相结构与结晶性能研究；3、晶体材料的高分辨显微结构与电子衍射信息；4、材料界面特性与...
仪器测试功能：分析材料表面形貌、粗糙度、厚度、物相分布等。仪器主要技术参数：1、分辨率： XY-0.5 nm, Z-0.1nm；2、样品尺寸：Φ25×10 mm，最大重量不超过40g；3、扫描范围：100×100×10 μm，带有闭环控制功能。仪器主要应用领域：主要用于纳米材料、高分子、聚合物、半导体等相关领域的研究工作，并对其表面形貌进行表征分析。此仪器技术优势：1、闭环扫描控制的位移传感器，提高扫描结果的精确度；2、结构紧凑，分辨率高；...
仪器测试功能：进行材料的表面微观形貌、内部组织结构和元素组成及分布等分析。仪器主要技术参数：1、分辨率：3.0 nm (30 kV)；2、放大倍数：5～100000倍；3、低真空模式气压：270 Pa (Max)；4、元素分析范围：Be4～U92。仪器主要应用领域：材料形态、尺寸等微观结构分析。此仪器技术优势：1、拥有低真空模式，可进行部分生物样品的原生态观察，不至于失真；2、能谱软件包含Particle Analysis功能，可结合背散射电子信号进行颗...
仪器测试功能：材料微观形态、物相组成及元素Be4~Cf98分析。仪器主要技术参数：1、分辨率:0.8 nm(15kV),1.4 nm (1kV)；2、放大范围:5~1000000倍；3、加速电压:0.02~30kV；4、高真空条件下不分解、不放气、无磁性样品。仪器主要应用领域：1、材料形态、尺寸、孔洞等微观结构分析;2、材料物相组成、界面分析;3、材料构成元素的定性定量分析;4、材料元素线、面扫描分析
仪器测试功能：提供超高稳定性原子分辨能力和高速扫描方式，可在原子水平表征样品表面结构（包括电子结构和几何形貌），可用于多种无机（包括半导体、高温超导体、金属、磁性、氧化物等）单晶块材、外延薄膜的表面结构分析。仪器主要技术参数：1、分析室本底真空度：优于5 × 10-10 mbar；2、样品温度90 -400 K；3、热漂移（120 K < T < RT）：< 0.05 nm/min (纵向)，< 0.15 nm/min (横向)；4、稳定度：< 5 pm。仪器主要应用领域...
仪器测试功能：能够精确地对金属和非金属多晶样品进行物相定性、定量分析，薄膜材料的物相分析。仪器主要技术参数：1、X射线光源输出功率：3 kW2、最小步进角度：0.0001°；3、重复性：0.0001°；4、角度偏差：0.0001°；5、LynxEye阵列探测器；6、动态范围：1 x 108 cps。仪器主要应用领域：1、对金属和非金属多晶材料进行物相定性、定量分析；2、薄膜物相(掠入射法)分析；3、结晶度及非晶相含量分析等
仪器测试功能：进行激发谱、稳态荧光光谱、时间分辨荧光、时间分辨光致发光、量子产率等的测试分析。仪器主要技术参数：1、皮秒脉冲激光器波长: 375 nm (最窄脉冲宽度:<40 ps);2、420 nm (最窄脉冲宽度:<70 ps)、485 nm(最窄脉冲宽度:<110 ps)；3、同轴UV-氙弧灯波长范围:250 nm~2600 nm；4、探测波长范围: 250~900 nm；5、可测荧光寿命范围: 25 ps~5.2 ms。仪器主要应用领域：适用于各种有机、无机荧光分子材料、薄膜材料、半...
